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Tof-PEEM（飞行时间动量显微镜）*
飞行时间动量显微镜是获得专利的飞行时间动量显微镜，可对照明样品区域的整个光电子发射半球 (2πk2) k空间进行成像，可选实空间样品区域直径最少为1 μm，是一种新型ARPES技术。
- 动量分辨率< 0.01 Å-1
- 空间分辨率 < 50 nm
- 能量分辨率 < 20 meV
- 可提供 L-He 冷却样品台
- 可提供平行自旋成像
| *代理Surface Concept公司产品 |
飞行时间动量显微镜是获得专利的飞行时间动量显微镜，可对照明样品区域的整个光电子发射半球 (2πk2) k空间进行成像，可选实空间样品区域直径最少为1 μm，是一种新型ARPES技术。
| *代理Surface Concept公司产品 |